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平 義隆*; 岡野 泰彬*; 平出 哲也; 薮内 敦*
no journal, ,
UVSORにおいて逆トムソン/コンプトン散乱により得られる高エネルギー超短パルスガンマ線を、ガンマ線誘起陽電子消滅分光法(GiPALS)に応用した。GiPALSでは、8台のBaFシンチレーション検出器と2台のデジタルオシロスコープを用いて、半値幅140psの時間分解能を有する陽電子寿命測定システムを開発した。GiPALSは現在外部ユーザーが利用可能であり、例えば、応力負荷下での陽電子寿命その場測定が行われている。また、Ge半導体検出器を導入したガンマ線誘起陽電子消滅寿命-運動量相関(GiAMOC)測定装置の開発も行っている。さらに、パルスガンマ線の散乱が陽電子寿命スペクトルに及ぼす影響を、モンテカルロシミュレーション コードEGS5を使用して計算で評価し、手法の高度化を行っている。今後、円偏光ガンマ線を用いたスピン偏光陽電子消滅分光法の開発なども計画されている。
薮内 敦*; 淡路 亮*; 平出 哲也; 藤浪 真紀*; 大島 永康*; 高井 健一*; 平 義隆*
no journal, ,
UVSOR放射光施設でガンマ線誘起陽電子消滅分光法技術を用いて純鉄の引張変形中に形成される欠陥評価のため陽電子消滅寿命をその場測定した。ひずみ速度2.210/sで公称ひずみ7以上まで延伸しながら、直径3mmの66MeVガンマ線パルスビームを試料中心部に照射して試料内で生成させた陽電子を用いて、純鉄試験片の引張変形中の陽電子寿命変化を観察した。今までは試料の変形後に陽電子寿命測定が行われることが多く、これらの結果と異なり、今回のその場測定実験では特に変形初期の寿命変化が非常に小さいことが明らかとなった。